Cuprins teza

Testarea structurala a circuitelor integrate
prin analiza caracteristicilor de terminal

Cuprins Teza / Rezum.

Introducere 5 3

Cap. 1 Principii si metode de testare utilizate in electronica 8 4

1.1 Problematica testarii 8 4

1.2 Notiuni fundamentale din domeniul testarii 11 4

1.3 Metode clasice de testare in circuit 18 5

1.4 Caracteristicile masurarilor in sistemele de testare 22 6

1.5 Testarea circuitelor integrate digitale 26 7

1.6 Testarea circuitelor integrate analogice 34 8

1.7 Testarea circuitelor mixte 40 9

1.8 Directii de dezvoltare 41 10

Cap. 2 Sisteme de testare cu calculator personal 43 10

1.1 Sisteme de achizitie si prelucrare a datelor cu calculator 43 10

1.2 Interfata paralela a calculatorului personal 44 11

1.3 Module de extensie pentru achizitie de date 47 11

1.4 Software de achizitie si procesare pentru calculator 50 12

1.5 Prezentarea mediului de programare LabVIEW 55 13

Cap. 3 Sistem de testare parametrica 59 13

1.1 Generator de curent constant cu gama larga de curenti 59 14

1.2 Testarea parametrica a tranzistoarelor bipolare 66 15

1.3 Circuitul de testare experimental 68 16

1.4 Programele de comanda, masurare si afisare 73 17

1.5 Testarea parametrica – observatii si concluzii 80 18

Cap. 4 Testarea functionala a convertoarelor digital-analogice 81 18

1.1 Parametrii convertoarelor digital - analogice 81 18

1.2 Interfata dintre placa de achizitie si convertorul testat 83 19

1.3 Programe pentru controlul sistemului de testare cu placa de achizitii de date 85 19

1.4 Testarea convertoarelor d/a prin interfata paralela a calculatorului 89 21

1.5 Sistem de testare comandat prin interfata paralela 90 21

1.6 Controlul sistemului de testare prin interfata paralela 98 23

1.7 Comparatie intre metodele de testare propuse 107 24

Cap. 5 Testarea structurala a circuitelor integrate prin analiza caracteristicilor

de terminal - sistemul de achizitii de date 107 25

1.1 Injectarea unor curenti si determinarea tensiunilor 110 25

1.2 Schema bloc a sistemului de trasare a caracteristicilor de terminal 111 25

1.3 Generatorul de curent constant comandat digital 113 26

1.4 Circuitul de conditionare a semnalului 115 27

1.5 Circuitul de validare analogica 118 28

1.6 Circuitul de control 123 29

Cap. 6 Programe de comanda si prelucrare

pentru testarea structurala a circuitelor integrate 128 31

1.1 Specificatiile de programare 128 31

1.2 Specificatiile de date 131 32

1.3 Programe de control scrise in limbaj de asamblare 143 35

1.4 Programe coordonatoare 153 36

Cap. 7 Concluzii 156 38

7.1 Problematica abordata, solutii propuse si realizate 156 38

7.2 Contributii originale 161 39

7.3 Directii de dezvoltare ale cercetarilor 163 40

Anexa 1. Fotografii ale sistemelor de testare realizate practic 165 41

Anexa 3. Ecrane de interfata ale programului coordonator 179 42

Bibliografie (selectii) 181 43

Summary 45

Curriculum Vitae 48

e-mail

Pagina principala

	*Cuprins*	Teza /	Rezum.
	Introducere	5	3
Cap. 1	Principii si metode de testare utilizate in electronica	8	4
1.1	Problematica testarii	8	4
1.2	Notiuni fundamentale din domeniul testarii	11	4
1.3	Metode clasice de testare in circuit	18	5
1.4	Caracteristicile masurarilor in sistemele de testare	22	6
1.5	Testarea circuitelor integrate digitale	26	7
1.6	Testarea circuitelor integrate analogice	34	8
1.7	Testarea circuitelor mixte	40	9
1.8	Directii de dezvoltare	41	10
Cap. 2	Sisteme de testare cu calculator personal	43	10
1.1	Sisteme de achizitie si prelucrare a datelor cu calculator	43	10
1.2	Interfata paralela a calculatorului personal	44	11
1.3	Module de extensie pentru achizitie de date	47	11
1.4	Software de achizitie si procesare pentru calculator	50	12
1.5	Prezentarea mediului de programare LabVIEW	55	13
Cap. 3	Sistem de testare parametrica	59	13
1.1	Generator de curent constant cu gama larga de curenti	59	14
1.2	Testarea parametrica a tranzistoarelor bipolare	66	15
1.3	Circuitul de testare experimental	68	16
1.4	Programele de comanda, masurare si afisare	73	17
1.5	Testarea parametrica – observatii si concluzii	80	18
Cap. 4	Testarea functionala a convertoarelor digital-analogice	81	18
1.1	Parametrii convertoarelor digital - analogice	81	18
1.2	Interfata dintre placa de achizitie si convertorul testat	83	19
1.3	Programe pentru controlul sistemului de testare cu placa de achizitii de date	85	19
1.4	Testarea convertoarelor d/a prin interfata paralela a calculatorului	89	21
1.5	Sistem de testare comandat prin interfata paralela	90	21
1.6	Controlul sistemului de testare prin interfata paralela	98	23
1.7	Comparatie intre metodele de testare propuse	107	24
Cap. 5	Testarea structurala a circuitelor integrate prin analiza caracteristicilor
	de terminal - sistemul de achizitii de date	107	25
1.1	Injectarea unor curenti si determinarea tensiunilor	110	25
1.2	Schema bloc a sistemului de trasare a caracteristicilor de terminal	111	25
1.3	Generatorul de curent constant comandat digital	113	26
1.4	Circuitul de conditionare a semnalului	115	27
1.5	Circuitul de validare analogica	118	28
1.6	Circuitul de control	123	29
Cap. 6	Programe de comanda si prelucrare
	pentru testarea structurala a circuitelor integrate	128	31
1.1	Specificatiile de programare	128	31
1.2	Specificatiile de date	131	32
1.3	Programe de control scrise in limbaj de asamblare	143	35
1.4	Programe coordonatoare	153	36
Cap. 7	Concluzii	156	38
7.1	Problematica abordata, solutii propuse si realizate	156	38
7.2	Contributii originale	161	39
7.3	Directii de dezvoltare ale cercetarilor	163	40
	Anexa 1. Fotografii ale sistemelor de testare realizate practic	165	41
	Anexa 3. Ecrane de interfata ale programului coordonator	179	42
	Bibliografie (selectii)	181	43
	Summary		45
	Curriculum Vitae		48